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谷物降落數(shù)值測(cè)定儀適用于谷物如小麥、小麥粉等，是糧食儲(chǔ)藏、面粉加工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)儀器。

玉米表型檢測(cè)儀可一鍵檢測(cè)分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長(zhǎng)寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長(zhǎng)、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。

小麥硬度指數(shù)測(cè)定儀是杭州科銘光電科技有限公司根據(jù)GB1354-2008《小麥》、GB/T21304-2007《小麥硬度測(cè)定 硬度指數(shù)法》等國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求研制。

小麥不完善率檢測(cè)儀連接專用掃描儀，掃描出小麥正反兩面的電子照片，通過軟件識(shí)別自動(dòng)對(duì)檢測(cè)的小麥樣品進(jìn)行計(jì)數(shù)分類計(jì)算，從而獲得整體小麥的分類品質(zhì)。

小麥不完善粒測(cè)定儀以小麥不完善粒作為測(cè)定對(duì)象,在自動(dòng)獲取糧食圖像后，通過模式識(shí)別或深度學(xué)習(xí)等技術(shù)構(gòu)建神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，實(shí)時(shí)分析糧食特征并計(jì)算出小麥不完善粒百分比。